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数字成像基础理论学习笔记3:三议采样
发布时间 2014-06-04 来源 -
   对射线辐射图像的采样,还不能谈时域采样,只能谈“空域采样”或“空间釆样”。什么是“空间”?就是工件的x、y、z三个方向。什么是“采样”?就是利用探测器探测。在x或y方向上,相邻像素中心距似乎就是采样空间的波长,像素个数(或单位长度的像素个数)似乎就是空间频率。在z方向表示为对射线强度探测----采样,把模拟强度变为数字灰度,采样最小单元为灰度级(2的位数次方)分之一。我以为:抛开以上x、y、z三个方向,再谈空域釆样,就很难让人理解了。我们现在搞的数字成像,明明就是这样采样么!?不必把问题复杂化。
      维纳频谱分析的核心观念似乎是:空间频率和空间分辨率相关,二者有函数关系;而射线照相颗粒度(的橫向尺寸),似乎决定了空间分辨率,线对/毫米。这一观念可以很方便地用到数字成像上。只不过固有不清晰度(射线能量)的影响要打折扣或去除了。
      如果认为空间的二维,即显示平面的空间频率和空间分辨率有关。那么,显示器的分辨率恰恰是用纵和橫像素个数的乘积表示的,我以为像素个数就是平面的釆样频率。

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